引用插入线连接器
光学参考连接器的设计公差减少，并用于测量衰减损失;它们应该被认为是测量设备的组成部分，因为它们在很大程度上影响了测量的不确定度。
为了限制使用参考连接器的衰减损耗测量的变化性，DIAMOND使用了在MFD(模式场直径)上选择缩小公差的单模态光纤，符合CEI 61755-2-4 / -2-5标准。在使用光纤类型和以下标准中公布的公差参数时，只要随机改变参考连接器，就有可能获得可在±0.1 dB范围内重复的测量值。
影响参考连接器性能的主要参数是光纤芯的位置、轴向角和模场直径(MFD)的变异性。DIAMOND通过标准化的复合套圈和主动核心对准技术(ACA)设计高性能参考连接器，该技术允许减少光纤核心的偏心和控制角度偏差。
尽管如此，在使用前检查和必要时清洁连接器和测量电缆，以及测量设备的电缆和被测部件(DUT:被测设备)的电缆是非常重要的。
特点:
•每个连接器的损耗优于0.1 dB。
•高精度钛镶金刚石陶瓷卡套
•极低的反射损耗
•卓越的重复性率
•在1310-1550 nm波段上具有优异的均匀性
•低MFD光纤生产
•提供证书和测量报告
•符合IEC标准
应用领域:
•精确的衰减测量
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