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光学参考连接器的设计公差减小，用于测量衰减损失;它们应被视为测量设备的组成部分，因为它们对测量的不确定度有很大的影响。
为了限制使用参考连接器进行衰减损耗测量的变异性，DIAMOND使用了在MFD(模式场直径)上选择公差较小的单模光纤，符合CEI 61755-2-4 / -2-5标准。只有当我们在应用下述标准中公布的光纤类型和公差参数时，随机更换参考连接器，才有可能获得可在±0.1 dB范围内重复的测量值。
影响参考连接器性能的主要参数是光纤芯的位置、轴的角度和模场直径的变化。DIAMOND通过标准化的复合插箍以及有源芯对准技术(ACA)设计高性能参考连接器，该技术可以减少光纤芯的偏心度并控制角度偏差。
尽管如此，在使用前检查连接器和测量电缆，以及测量设备电缆和要测量的组件(DUT:被测设备)的电缆是非常重要的，如有必要，清洁连接器和测量电缆。
特点:
•每个连接器损耗优于0.1 dB。
•高精度金刚石陶瓷卡套，钛镶件
•非常低的反射损耗
•优良的重复性
•在1310-1550 nm波段上具有良好的均匀性
•用于生产的低MFD纤维
•提供证书和测量报告
•符合IEC标准
应用领域:
•精确的衰减测量
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